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            費希爾測厚儀xdl 210

            費希爾測厚儀xdl 210

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            費希爾測厚儀xdl 210
            XDL 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器

            費希爾測厚儀xdl 210的詳細資料:

            費希爾測厚儀xdl 210

            菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介憑借電機驅動(可選)與自上而下的測量方向,XDL 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求.
                       配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當測量門開啟時,XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有開口(C形槽).由于測量室空間很大,樣品放置方便,儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm  .  Z軸可電動調整的儀器,測量距離還可以在0- 80 mm的范圍內自由選擇,這樣就可以測量腔體內部或表面不平整的物體(DCM方法)。

            特性:

            • ■X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
            • ■由于測量距離可以調節(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
            • ■通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現自動化的批量測試
            • ■使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)

            應用:鍍層厚度測量

            • ■大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
            • ■電路板上較薄的導電層和/或隔離層
            • ■復雜幾何形狀產品上的鍍層
            • ■鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
            • ■氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
            •  材料分析
            • ■電鍍槽液分析
            • ■電子和半導體行業中的功能性鍍層分析

            菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念

            FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統,篤摯儀器正規代理。
            高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作,測量數據的計算,以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。

            篤摯儀器擁有經驗豐富的質量控制團隊,各類性能優異,效率高,耐用性和成本效益高的測量儀器,廣受客戶青睞的進口儀器品牌,和正規代理資質。

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